二手 KLA / TENCOR P-7 #293665117 待售

KLA/TENCOR P-7是为制造半导体元件而开发的晶圆测试和计量设备。它对晶片进行了精确的分析，以优化工艺控制和产量。KLA P-7结合高分辨率成像和强大的计量能力，用于晶圆测量和缺陷检查。该系统采用模块化设计，允许灵活配置，允许用户构建最适合其规格和需求的单元。其电机和控制器在运动控制方面提供了更高的精度，提高了测量的可重复性。该软件还支持自动晶圆级测试以检测早期流程问题。TENCOR P 7还提供了改进的成像能力，包括各种CCD探测器如sCMOS和TDI，以及一系列照明选项，包括暗场、亮场、差分干涉对比度（DIC）和Nomarski。这些选项可以结合起来，在检测微妙的光学现象方面提供更高的精度。为了精确测量晶片上的图样,P-7还具有高性能的高分辨率计量能力,能够测量低至5nm的关键特征。这样可以准确测量阵列间距、关键尺寸和其他功能,以确保设备性能和可靠性。P 7还提供了专门的传感器、范围、光谱和专门的计量模块的组合，为晶圆测量和缺陷检查提供了最全面的一套工具。这种技术组合为用户提供了精确晶圆测试和分析的完整解决方桉。总体而言,KLA P 7提供了功能强大且用途广泛的晶圆测试和计量机器,旨在优化半导体器件的过程控制、产量和性能。它结合了成像、计量以及专门的传感器和瞄准镜，为用户提供了一个易于配置的工具，可以精确地测量和检查晶圆。