二手 KLA / TENCOR P-7 #9204283 待售

KLA/TENCOR P-7是一种先进的晶圆测试和计量设备，设计用于半导体晶圆和器件的完整表征。它基于独占且全面的PicoTOUCH轮廓计量系统,可实现快速、准确和故障安全的测量。该单元利用高精度激光干涉测量提供非接触测量，用于测量晶圆和器件表面的表面地形。该机器还依靠定制开发的数据分析和过程表征软件来分析和报告结果。软件由多个模块组成，包括外观和感觉图形用户界面、高速数据采集和分析引擎，以及用于提取和报告度量和描述性变量的模块。它包括各种复杂的算法,以确保测量准确、可重现和可靠。KLA P-7具有双重安装功能；它可以同时安装和检查两个晶片,从而实现高效的吞吐量。借助这种双元件，可以同时精确测量同一晶片上的多个器件。使用高级算法，该工具可以识别晶圆上的单个设备并将其隔离以进行单独分析。该资产利用集成的报告就绪模板,能够快速、轻松地格式化检查数据,以便对整个晶圆以及特定功能和设备进行全面比较和分析。此外，该模型还包括一个先进的高速成像设备，以捕捉各种重要的晶圆级特征，如颗粒污染、存在缺陷区域和蚀刻均匀性。这种先进的晶圆测试和计量系统非常适合不同行业的质量控制和过程优化。该设备易于安装、操作和维护,同时提供有价值的信息以增强生产过程中的过程控制和产量。