二手 KLA / TENCOR P1 #165277 待售

KLA/TENCOR P1是一种先进的晶片测试和计量设备，便于对半导体晶片进行精确、高效的检验、测试和分析。该系统可测量各种晶片特性，包括厚度、电阻、光反射等晶片特性。KLA P-1采用模块化体系结构设计,允许为各种晶圆测试过程集成一系列组件,如扫描仪和探测器。基本的TENCOR P1单元是P1-V（Vision）机，它是为测试模具和接触垫等2D元件而量身定制的。TENCOR P1-G （GaDRS）工具是为测试深沟和连接通气等3D元素而量身定制的。KLA P 1-AM（阵列测量）资产适用于具有高吞吐量要求的晶圆测试过程。KLA P1平台的核心技术是其高分辨率成像能力，它基于跨多个波长的自动化多光谱成像。这允许对每个晶片进行精确分析和检查，而动态扫描则允许对多个区域和高吞吐量进行精确测量。此外,P-1平台还提供千兆像素成像,支持任何阵列测量应用程序的工业级分辨率。可以将各种光源集成到平台中，以支持从2D检测到3D元素立体视图的应用。P1模型还具有用于数据采集、分析和报告的高级软件。TENCOR P-1软件为晶圆的选择、处理和分析提供了最大的灵活性。许多内置功能（如自动化、数据库管理、图形用户界面（GUI）和图像归档功能）可实现高吞吐量操作。为确保最大效率和准确性,KLA/TENCOR P-1设备由内置传感器和用于控制、维护和调整设备设置的闭环供稿提供支持。质量控制和校准过程可以很容易地实施。该系统还允许连接多个探针和仪器，使得在测量同一晶圆的不同部分时能够进行简单的并行过程。总体而言，KLA/TENCOR P1平台是满足半导体行业测试和计量需求的强大而可靠的单元。高分辨率成像、强大的软件和自动化传感器可实现高效、精确和可靠的测量。模块化设计也是一项吸引人的功能,因为它易于集成、经济高效和可扩展性。