二手 KLA / TENCOR P1 #171037 待售

KLA/TENCOR P1是为半导体制造工艺设计的自动化计量和晶圆测试设备。它能够快速评估和分析光掩模和晶片的结构特征,为行业中的工人提供比手动实现的更高的准确性和精确度。系统的内置组件利用计量技术，如2D和3D光学检查和散射测量，以及晶圆级测试和电屈服分析。这两种技术的结合使设备能够检查和分析晶片的物理和电气特性。该机器能够分析到10nm的分辨率下的模式,并且可以用于晶片的正面和背面检查,从而实现对两层的精确目视检查。这允许检测晶片中的各种缺陷，如分层、污染、芯片和划痕。KLA P-1还结合了先进的信号处理，以提高测试结果的准确性。该工具收集和存储晶圆上数十个点的数据，使用户能够比以往任何时候都更精确地跟踪电阻和信号完整性等属性。该资产具有易于使用的触摸屏界面，允许用户快速准确地对模型设置进行调整或执行数据分析任务。仅需单击几次即可轻松启用或禁用自动数据收集和报告生成等高级功能。除了计量和晶圆测试功能外，TENCOR P1还提供了集成的制造过程控制设备，使用户可以在生产过程中监控产品质量。该系统可以提醒用户注意可能出现的问题,使他们能够快速高效地采取纠正措施。与传统的测试和计量系统相比,P1提供了更高的灵活性和精度,使其成为半导体工厂和其他以技术为中心的行业的理想解决方桉。通过简化测试和监测晶片生产的过程，这个单元有助于大幅降低生产成本，同时节约资源和提高产量。