二手 KLA / TENCOR P1 #293590370 待售

KLA/TENCOR P1是一种集成的计量和晶圆测试设备，旨在为半导体和MEMS器件提供高性能的单晶圆缺陷检测和计量。该系统结合了一个最先进的光学成像单元和一整套先进的自适应计量工具，以生成关于各种晶圆结构和特征的准确、详细的数据。该机器能够快速有效地检查一个试验区的数百个晶圆结构和特性，使芯片制造商能够识别和隔离缺陷，以便进一步分析。KLA P-1先进的光学成像工具在单个晶片上提供出色的小特性和结构分辨率。资产的振动阻尼使得在众多图像中具有很高的准确性和可重复性。该模型也具有很高的适应性，使用户能够选择各种光源、放大倍率和光谱灵敏度，以适应不同的晶圆特性。TENCOR P1有助于快速审查和分析检测过程中获得的缺陷和缺陷集群的电性能。设备结合了两个自动定位阶段，与静态计量阶段相结合。这使系统能够快速准确地映射多个测试站点的位置和大小，以确定可以审查和分析的缺陷位置。此外，该单元还提供了多个晶片的比较，使用户能够快速准确地识别不同晶片特性的趋势。此外,TENCOR P-1还提供高级检测功能。它的多个分析工具可以检测和表征与组件的电性能相关的各种缺陷和缺陷。这些工具包括先进的激光脉冲化学和高精度化学制剂，用于查明异常特征和材料偏差。此外,该机器还具有一组独特的复杂缺陷分类器,这些分类器嵌入到工具的算法中,可快速可靠地检测几乎无限范围的晶圆缺陷和缺陷。总而言之，P-1是一种综合计量和晶圆测试资产，旨在提供关于各种晶圆结构和特征的详细数据。该模型具有卓越的光学成像设备和高精度计量工具，能够对缺陷和缺陷群进行可靠的识别和分析。此外，其先进的检测能力与系统的一组复杂的缺陷分类器相结合，提供了几乎无限范围的晶圆缺陷检测和分析。