二手 KLA / TENCOR P1 #293608771 待售

KLA/TENCOR P1是一种晶圆测试和计量设备,旨在提供一种非常准确和经济高效的方法来帮助客户检查和测量他们的产品。它利用成像传感器和模式识别技术来分析器件的物理和电气特性，包括半导体器件的结构和层厚度，以便进行工艺优化和控制。该系统适用于晶圆制造的所有阶段，从晶圆检验到最终计量。它收集有关样品的温度、层结构、反射率、容量和电气特性的信息。该单元技术的工作原理是收集数据以删除测试晶片中不需要的区域,从而可以更轻松地查看感兴趣的区域并更快地进行分析。它使用先进的成像机精确测量晶圆结构和1至6微米之间的层厚度，准确识别和分析缺陷。成像工具由高分辨率相机和发光二极管（LED）组成，可捕获测试晶片的图像和视频，以确保每次测量的准确结果。该资产还能够提供数据供进一步分析。它可以提供设备特性、结构温度、工艺稳定性等相关数据的信息。KLA P-1专为需要对其产品进行高效生产测量的用户而设计。它为用户提供了若干好处,例如提高了流程效率、降低了成本和缩短了周期时间,使他们能够优化流程参数并开发新的流程技术。此外，该模型还配备了易于使用的软件界面，方便数据访问和分析。软件包含一系列工具,使用户能够快速、轻松地访问、分析和比较数据。总之，TENCOR P1晶片测试计量设备是一种先进的系统，为用户提供了一种控制和优化半导体器件制造工艺的高精度、高性价比的方法。它配备了有益的功能，让用户能够快速准确地测量、分析和比较数据。通过使用该单元,用户可以提高流程效率并降低成本,从而使他们能够获得更高的准确性和对产品的控制。