二手 KLA / TENCOR P1 #9386653 待售

KLA/TENCOR P1是来自KLA Corporation的晶圆测试和计量设备，旨在为各种晶圆和基材提供先进的精度测量和缺陷检测。它利用光学显微镜和高分辨率成像技术进行高精度亚微米测量。该系统能够支持2-7.5英寸（50.8毫米-190.5毫米）的晶圆尺寸,厚度在0.5至9.5毫米之间。该单元设计用于利用明场和暗场显微镜图像检测和测量晶片上缺陷的尺寸。这使得它能够检测到甚至极小的缺陷，如颗粒、划痕、凹坑和沉积材料。它还配备了高分辨率成像能力，可以对晶片进行深潜分析。这一特性提高了机器发现和表征原型和低产缺陷的能力。该工具还配有晶片保持机构，设计用于测量时保护晶片。它配备了数字倾斜级，允许对晶圆及其缺陷进行精确的角度和精确的测量。该资产还提供模式识别和自动化宏等自动化功能，允许用户在短时间内快速准确地测量大量晶圆。科索沃解放军P-1与大量采购软件相结合，以进一步分析和分析从测量中收集的数据。此分析软件提供了复杂的功能,如3 D曲面表征、2D图像的映射和扫描、缺陷分析倾斜以及缺陷密度和尺寸调整等。数据也可以导出，以便在其他系统中共享和进一步分析。该模型能够减少分析大量晶圆样品所需的总成本和时间。设备还配备了直观的用户界面，便于操作和导航。这使得有经验的用户和那些新的晶圆测试和分析操作系统变得容易。该单位还遵守安全标准和协议，确保在规定的安全限度内进行测量。总体而言，TENCOR P1是一种高度精确且功能丰富的机器，用于记录、映射和测量基板和晶片上的缺陷和其他表面特性。它设计用于高精度测量和缺陷检测,使用户能够准确高效地分析大量数据。