二手 KLA / TENCOR P10 #293655524 待售

KLA/TENCOR P10晶片测试和计量设备是一种最先进的检验和测试仪器，能够对晶片进行高速屈服和缺陷分析。它提供了晶圆级缺陷审查、高速晶圆映射和测试测量的顶级组合，具有卓越的数据精度和分辨率。该系统包括一个多光束光学显微镜，用于精确检查整个晶片表面的图像，以便以非常高的分辨率检测缺陷，以及一个高速晶片映射单元来测量晶片的电阻、片状电容和接触电阻等电性能。KLA P-10利用最新的计量技术,如先进的Abbe镜头设计、压电驱动的物镜移动和高清光学机器,以一流的分辨率提供极其详细的图像。多光束光学工具和先进的计算工具使TENCOR P 10能够检测和获取晶圆上缺陷的确切位置。该资产还提供激光探针和基于液体的成像功能,使缺陷的精度无与伦比,几乎没有伪影或变形。KLA P 10还提供非常高速的测量和自动晶圆成像,从而能够高效分析大型晶圆。该模型还具有自动对齐功能,简化了在单个设置中检查多个晶片的整个过程。随附的软件易于学习和使用,支持快速、可重复的测量以及高级分析和报告功能。KLA/TENCOR P 10晶圆测试和计量设备是一种用于要求最苛刻的半导体工艺的可靠、高精度仪器。其先进的光学、高速的测量能力和人性化的软件，使其成为生产线、研发和先进应用开发中晶圆检测测试的理想选择。