二手 KLA / TENCOR P10 #293665059 待售

KLA/TENCOR P10晶圆测试计量设备是晶圆测试计量的集成自动化平台。该系统设计用于对薄晶片进行快速、准确的分析，能够分析晶片厚度、均匀性和其他参数，直至亚微米分辨率。该股利用光学和X射线技术相结合，实时测量参数数据，并允许以高度详细的视觉格式捕获和收集数据。KLA P-10晶片测试和计量机由三个关键组成部分组成：测试X过程单元、光学站和X射线站。Test-X单元负责控制晶圆测试的整个过程。它允许晶片到晶片的跟踪，并提供先进的晶片操纵和处理。光学站提供高分辨率成像工具和处理和分析数据的强大算法的在线光学检查。X射线站利用X射线分析技术，可以精确测量最薄的微观结构层和最复杂的地形。TENCOR P 10晶圆测试和计量资产提供了一套全面的数据分析功能。它包括功能齐全的软件,允许用户处理和分析各种格式的数据,包括3 D结构分析、可视化和报告。此外,该模型还可用于一系列应用,如缺陷检测、产量分析、产品鉴定和计量。该设备设计用于高通量操作，每分钟最多可采样8个晶圆。TENCOR P-10晶圆测试和计量系统设计为提供准确、可重复的高可靠性测试。它包括一个自动校准单元,以确保测试在多个研究中始终准确,并且该机器的设计符合业界和政府要求的ESD和其他标准。该工具配备了一系列数据存储和通信选项。它包括一个集成的数据捕获和报告资产,可以快速存储和访问数据。此外,该模型还可以连接到其他网络,并可用作远程或自动控制的平台。总体而言，KLA P 10晶圆测试和计量设备是晶圆测试和计量的集成自动化平台。它提供了一系列特性和功能,使其成为测试薄晶片和精确测量参数的理想工具。