二手 KLA / TENCOR P10 #9159738 待售

KLA/TENCOR P 10是一种晶圆测试和计量设备,旨在提供精确的计量和缺陷检测,以改进过程控制和降低生产成本。该系统具有最先进的光学设备、双区域测量和出色的模式识别功能,适用于各种应用。KLA P-10的板载光学器件包括使用高分辨率百万像素相机的DUV（深紫外线）成像单元、多束激光束和集成频闪镜。这种独特的光学组合允许检查员级测量精度和图像对比度。聚焦成像光学进一步提高了图像质量，提高了缺陷检测和测量的灵敏度。在成像方面,TENCOR P 10具有双区域分析（DAA）机器,可同时测量晶圆的正面和背面表面。该工具能够监控设备级别的变化，扩大流程优化机会的范围。在模式识别方面，TENCOR P-10利用专有算法来帮助识别晶圆表面上的无关粒子。这有助于检测现场的隔离缺陷和缺陷群集。资产的高级软件进一步提高了KLA P 10的准确性。它提供扫描电子显微镜分析（SEMA）集成和直观的用户界面以方便晶圆测试。SEMA集成允许KLA/TENCOR P 10更精确地测量小颗粒，并提供缺陷特征的深入分析。直观的图形用户界面简化了操作,并允许对获取的图像进行分析。最后，TENCOR P 10是一个可靠的晶圆测试和计量模型，可以提供最高水平的精度、准确性和灵敏度。它结合了先进的光学、双区域分析和专用软件，使其成为缺陷检测和工艺优化的完美解决方桉。KLA/TENCOR P-10是寻求提高产量、质量和底线性能的半导体制造商的理想工具。