二手 KLA / TENCOR P10 #9293254 待售

KLA/TENCOR P 10是一种具有几个关键特点的晶圆测试和计量设备。它是专为业界领先的性能线扫描晶圆计量应用而设计的。KLA P-10配备了最新一代的扫描技术和高分辨率成像能力，以确保其测量的准确性和可靠性。利用一套光学和触觉技术,TENCOR P 10可以测量整个晶片表面的各种关键设备参数,包括表面轮廓、图样轮廓、污染、薄膜和光伏特性。该系统的光学显微镜功能允许测量晶圆特性到纳米级，而其探针扫描技术在设备测量中保持最高精度。P 10包括一系列工程工具，允许用户自定义他们的计量过程，并为专门的应用程序定制算法。它还具有一个集成的数据分析平台，用于高效的数据处理和分析。该设备适用于温度范围为0°C至80°C的极端环境。TENCOR P 10先进的控件和高分辨率的精密光学使其成为半导体行业计量应用的理想选择。它也适用于测量具有高吞吐量的微型模式。P10对于测量单、双面和多层结构是非常可靠和高效的，使其成为检查各种大小和形状的晶片的完美工具。配备精密激光检测技术的KLA/TENCOR P 10能够精确测量晶片上图样缺陷的相对计数以及其他各种表面特性。该机具有自校准功能，具有低功率激光源，维护最少。KLA P 10还提供了一个集成光谱分析模块，用于精确、可重复的光谱结果。P-10是为晶圆计量应用中的行业领先性能而设计的综合性工具,具有高精度、可靠性和精确度。它非常适合半导体制造中的线扫描晶片测量和测试,提供各种定制测试和分析的工程工具,以及集成的一套光学和触觉技术。