二手 KLA / TENCOR P10 #9293513 待售

KLA/TENCOR P 10是一种先进的晶圆测试和计量设备，设计用于检测微观测试缺陷。它提供了对物理晶片特性的快速、准确和可靠的测量。该系统结合了最新的非接触式和光学测量技术。它被设计为满足半导体器件生产、微电子、光学材料加工等先进晶圆工艺和测量要求。KLA P-10单元提供四个级别的高精度和精确测量。它具有可靠、精确的样品界面，有助于准确映射测试缺陷。该机器还提供高速自动运动控制，在几纳米范围内精确。它结合了多种光源、复杂的对准系统、镜头、镜子和相机。这样,它就可以精确测量各种测试特性,例如曲面轮廓、线宽和曲面上方/下方的缺陷。在光学测量方面，TENCOR P 10工具利用了多种成像和扫描技术，包括立体显微镜、偏振和镜面剖面图。这些技术采用先进的设备来生成晶圆表面的详细图像。资产还配备了高精度的电动旋转级，帮助其以选定角度精确测量曲面。KLA P 10模型可用于广泛的晶圆测试和计量应用。其中包括故障分析、集成电路的表征、IC覆盖的对准以及光学传感器系统的表征。此外，该设备提供高分辨率、高保真信噪比的数字成像，对于检测晶圆的精细表面和特征细节非常有用。这有助于检测和分析微小的缺陷以及测试模式的映射。总体而言，P 10晶片测试和计量系统是准确检测测试缺陷和测量晶片物理特性的有力而可靠的工具。它结合了最新技术和高精度和精确度，以确保高质量的结果。