二手 KLA / TENCOR P10 #9412713 待售

KLA/TENCOR P 10是一种提供全面计量能力的全自动晶圆测试和计量设备。它可以高精度、高精度地测量单个晶片和半导体封装的电性能。KLA P-10晶片测试和计量系统包括与晶片的电性能相关的各种仪器和组件。例如，TENCOR P 10提供了光学和电气表征仪器的组合，以及临界尺寸测量能力。该单元支持一系列电气规格，包括电流、电压、电阻、电容和电感。P10旨在通过快速识别缺陷和最小化晶圆和封装再测试来提高先进半导体和电子产品的产量。因此，它是管理和提高高价值半导体产品产量的有效工具。该机器具有高级分辨率成像功能、多个站点的高速测试以及专有的测试算法。其晶圆处理工具可容纳各种批量，提供卓越的可重复性和均匀性。TENCOR P-10还支持通过LiDAR资产进行高吞吐量数据采集和监控,允许用户识别和隔离需要更快重新测试的部件。其数据可以实时收集和分析。此外,KLA P 10的计量功能得到业界领先的软件包的支持,该软件包允许用户准确快速地解释其结果。此软件可帮助用户快速识别晶圆或包装上可能存在的电气异常和其他缺陷。P 10是为最大的多功能性和可靠性而设计的。它的集成软件和硬件是为了支持广泛的应用和过程,包括限制性缺陷定位和识别测试、缺陷密度测量、低k表征和3D堆叠晶片分析。每一项功能都有助于缩短生产时间并确保产品质量达到最高水平。它还能够通过提供定制设计和更广泛的分析功能来满足每个客户的独特要求。P-10是半导体制造商理想的晶圆测试和计量解决方桉。它旨在通过提供自动化的测试和计量模型来帮助这些公司优化其运营、提高产量和降低成本,从而减少重新测试并确保高质量的零件。借助KLA/TENCOR P-10,半导体制造商可以快速准确地诊断其晶圆或封装的问题,从而节省时间和金钱,同时确保最高质量水平。