二手 KLA / TENCOR P11 #293593192 待售

KLA/TENCOR P 11是一种晶圆测试和计量设备，设计用于测量半导体晶圆的物理和电气特性。该系统允许操作员快速准确地捕获有关特征几何、光学特性和电气特性的全面数据。KLA P-11具有先进的定位和增强技术,能够跨多个芯片精确测量。在物理特征方面，TENCOR P 11利用了传统的干涉成像技术，使得晶圆上的特征能够根据广泛的参数进行精确的几何表征。高分辨率成像和精确聚焦服务可以捕获精确的三维测量。通过最先进的视频显微镜技术，用户还能够识别和隔离晶圆上的异常或缺陷。该单元可实现10微米的测量分辨率，便于对各种样品进行精确的计量。在电气表征方面，TENCOR P 11配备了探头、反射探头、光束探测器、电压对比度显微镜等多种设备。这些在芯片级别捕获和测量电气特性,包括电路的工作功率和频率、设备的性能以及晶体管的功能。P11还允许对设备进行精确的电气测试,包括电阻测量和电流泄漏。自动校准和自学算法可以提高准确性和可重复性。P 11提供增强的自动化功能,以减少人为错误、提高吞吐量和高效处理大量晶圆。通过其强大的分析，KLA P 11可以一次处理许多晶片，使制造商能够快速识别异常值或潜在菌株。全面的数据采集和晶圆注册功能使KLA P 11能够存储数据并快速分析以生成报告。P-11是半导体晶片先进测试和计量的有力工具。凭借其先进的成像和电气表征能力,该机器能够快速准确地分析样品,从而提高产量并提高设备质量。