二手 KLA / TENCOR P11 #293674887 待售

KLA/TENCOR P11晶片测试计量设备是一种高精度的晶片检测阶段，目的是提供高效、准确的晶片缺陷分析。该系统是利用光学成像和测量获取晶圆表面广域图像的自动化集成检测平台。然后用尖端成像和表征技术对这些图像进行分析，以便在微观水平上仔细检查晶圆材料。KLA P-11晶片测试和计量单元由一个坚固耐用的表面级组成，可容纳用于照明、放大和控制晶片的精密光学器件。这种先进的成像光学进一步提高了图像的分辨率和信噪比。此外,表面级是高度模块化的,可以集成到现有的检查环境中。此外，TENCOR P 11还包括直观的数据处理算法和特定于fab的目标，以便对样本进行快速、可靠的分析。本机采用反射成像和散射光学显微镜进行缺陷检测，并对缺陷数据进行直观回顾和报告。数据处理算法使得能够分析晶圆级上的纳米颗粒缺陷。此外,P11还提供了各种功能,如线和边缘剖析。这些功能通过测量缺陷的亮度和对比度来帮助确定缺陷的存在和大小。该工具还具有图像增强功能,可以观察所分析材料中的深度细节和边缘。此外,P-11 Wafer测试和计量资产为一系列操作平台提供软件支持。这包括用于数据记录/回放、图像处理和光学模拟的软件。它还预先加载了成像和测量功能库,并具有集成其他分析软件的能力。最后，KLA/TENCOR P-11具有集成的工业运动控制模型，提高了晶圆对准、扫描速度和精度。这使用户能够生成具有增强图像测量效果的高分辨率样本图。总体而言，KLA P 11晶片测试和计量设备是高分辨率样品缺陷分析的可靠且质量驱动的解决方桉。KLA/TENCOR P 11利用直观的数据处理算法和特定于晶圆厂的目标，使用户能够在微观小规模上实现高效准确的缺陷检测。先进的成像光学进一步提高了图像的分辨率，集成运动控制系统提高了扫描速度和精度。KLA P 11结合直观功能、软件支持和集成系统，为晶圆分析提供了可靠而强大的平台。