二手 KLA / TENCOR P11 #293718563 待售
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ID: 293718563
Film thickness measurement system
Scan length: 60 mm
Stage size: 170 mm
Stylus pressure: 0.5-50 mg
Scan speed: 1 µm/sec
X and Y Positioning speed: 25 mm/sec
Maximum travel distance: 205
Resolution: 0.5
Power supply: 100 VAC, Single phase, 50/60 Hz.
KLA/TENCOR P 11是一款晶圆测试和计量设备,旨在帮助竞争激烈的半导体行业团队开发下一代芯片和器件。该系统提供精确的晶圆特性和测量能力,以确保正在创建最先进的工艺和产品。KLA P-11消除了在测量过程中与晶片的物理接触,确保晶片在测试过程中从未受到损坏或污染。该单元还使用增强成像技术,快速准确地识别晶圆中可能存在的任何缺陷。机器的特性和计量能力为用户提供了卓越的分辨率。它可以测量高达300纳米厚,允许进行最精确的测量。TENCOR P 11还具有在单个测量中测量多个维度的能力,允许更快、更高效的测试和测量。KLA/TENCOR P 11具有广泛的软件工具来帮助分析晶圆。Analyze软件可以进行多种测量,并以各种格式进行显示。也可用于目测缺陷,可视化晶片的物理结构。P-11包括自动缺陷检测技术,允许快速、准确地检测缺陷。P 11还具有比其他系统更快处理数据的能力,使得对结果的分析既快又容易。它具有每小时分析多达1000个晶圆的能力,使其成为目前市场上效率最高的晶圆测试系统之一。总体而言,P11是一个功能强大且复杂的工具,使半导体行业的团队能够监控和分析其流程,从而创建更先进的产品和流程。通过提供卓越的分辨率、先进的成像技术和一套软件工具,TENCOR P-11可帮助用户确保生产可靠和准确的产品。随着效率和速度的提高,KLA P 11对于希望保持领先地位的任何团队来说都是必不可少的。
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