二手 KLA / TENCOR P11 #9009149 待售

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ID: 9009149
Profilometer Microhead sr Green probe tip (2um radius, 60 degrees) 3.1 Windows operating system Tencor software version 2.0 (including 2.1, 2.2 and 2.3 upgrades).
KLA/TENCOR P11是专门为半导体应用而设计的高性能晶圆测试和计量设备。它是一个集成系统,旨在在单个单元中快速测量和分析半导体晶片。它配备了广泛的高精度探针卡和自动对焦激光干涉仪,以提供最高水平的性能可用。这台机器提供高吞吐量、高精度和可靠性,以满足最苛刻的半导体行业要求。KLA P-11工具由双核处理器和大型内存系统提供支持。它配备了14轴定位资产,能够快速准确地测量许多不同类型的2D图样。自动化的计算机控制特征识别模型提供超快信号识别,让TENCOR P 11收集更多数据,做出更精确的测量。综合制图设备可用于高级地形数据采集和分析。该系统有一个集成的自动对焦激光干涉仪,使用波长稳定的910nm准分子激光器对半导体晶片和器件进行超精确测量。P 11有一个全自动级,可以在毫秒内将探针移动到晶片表面的任意点。舞台有一个广泛的运动,包括一个扫描运动快速定位特征在一个大的区域。该单元具有强大的缺陷检测引擎,能够分析标准图像和3D数据。这台机器可以根据其形状、边缘、灰度和其他参数检测和测量缺陷。此外,它还可以通过大小、位置、频率和存在/不存在来分析缺陷。这为用户提供了对缺陷特征和行为的无价洞察。KLA P 11旨在适应广泛的计量应用,并专门设计以减少测量时间。它提供高精度和高速测量,为用户提供最佳性能。此工具通过提供对生产过程的最佳了解,帮助制造商实现其生产目标。最后,KLA/TENCOR P-11提供了高级功能(如远程监视和控制),以及完整的图像归档,以便将来进行分析。
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