二手 KLA / TENCOR P11 #9381675 待售

KLA/TENCOR P 11是一种坚固而高效的晶圆测试和计量设备，能够对半导体晶圆进行质量评估。它具有先进的自动化和高吞吐量功能,适用于开发和生产测试阶段。KLA P-11具有很高的吞吐量阶段,具有快速、准确的定位和自动对焦功能,非常适合测量复杂的晶圆轮廓。它配备了先进的射频（RF）数据采集系统，能够更快地测量厚度和缺陷大小等临界特性。它还配备了高分辨率红外（IR）成像来检测表面缺陷，并且具有非常快的阶段释放机制，减少了循环时间。TENCOR P 11旨在提供半导体晶圆计量和测试的高精度。它采用专有专利计量和数据采集技术，能够进行深入的诊断和分析。该单元具有高精度扫描系统，以精确检测薄膜和厚膜，以及非常小的缺陷。它还具有先进的图像处理算法,能够快速检测、分类、分类和打印诸如粒子、空隙和分层等关键缺陷。此外,P 11机器提供了一系列缺陷分析功能和数据分析工具,能够准确预测产量趋势和故障分析。P-11支持自动模式识别,使其能够快速检测和处理形状和大小各异的特征图像。凭借其先进的光学系统和专有的软件技术，它能够进行各种不同的晶圆测量，如轮廓高度、边缘拉力、蚀刻深度、抗厚度、地形、晶体缺陷、薄膜沉积和扩散深度，跨越一系列不同的材料。KLA/TENCOR P 11工具还具有生产阶段的实时非接触式监控功能,提供实时警报以提醒操作员潜在的产品质量问题,允许采取主动纠正措施以防止成本高昂的生产延误。此外，该资产还包括一个通用的控制接口，便于非专家操作员进行高效和有效的操作。总体而言，KLA/TENCOR P-11是一种先进、可靠、高通量的晶圆测试和计量模型，旨在提供对半导体晶圆的精确测量。TENCOR P-11以其先进的光学和软件技术、精确的缺陷分析能力以及多用途的控制界面,是高容量晶圆生产环境的理想选择。