二手 KLA / TENCOR P15 #293657257 待售

KLA/TENCOR P15晶圆测试和计量设备是半导体工业的前沿工具。它是一个由多种仪器组成的系统，旨在识别、测量和分析半导体晶片内广泛的物理性质。该单元具有高性能成像技术结合先进的分析和处理算法，使其能够快速准确地分析测试结果。它能够测量各种晶圆特性，包括晶圆平坦度、总侧壁粗糙度和地形。它还具有先进的缺陷检测能力，使其能够检测到颗粒、凹坑、划痕和腐蚀损伤等缺陷。它旨在在整个晶片堆栈中实现快速和可重复的测量。该机配备了先进的控制架构，提供全面自动化的测量和分析操作。它包括用于监视和控制工具内部环境条件的传感器,以及用于精确样品定位的精确阶段。其软件具有用户友好的图形界面、自动报告功能和完整的数据存储功能,以确保测量的可追踪性。KLA P-15资产非常适合各种半导体制造过程,包括3 D半导体集成、高级光刻计量、后端过程跟踪和封装调查。它的高分辨率能力和自动化软件使其成为高级半导体研发的理想选择。该型号配备处理各类样本量，容量可达200毫米晶圆，与多种测试方法的兼容性使其成为表征项目特别合适的选择。因此，TENCOR P 15晶圆测试计量设备是半导体行业可靠、精确、易于使用的工具。其广泛的兼容性、自动化能力和高分辨率成像技术使其成为表征项目、研发和生产线质量控制的理想选择。