二手 KLA / TENCOR P15 #293677300 待售

KLA/TENCOR P15晶片测试和计量设备是一种提供全自动和快速晶片分析和测试的工具，同时保持最高精度。该系统有一个带有自动对焦和自动中心对准的计量阶段，允许扫描和检查晶圆表面。它还有一个晶圆测试和探测单元，为检测表面缺陷提供必要的分辨率。KLA P-15具有高速扫描能力和快速对齐技术，使其能够在更短的时间内完成测试周期。它还配有一个集成的光学机器，用于在广泛的频率范围内测量电阻和电容，使其能够快速准确地检测晶圆中的电缺陷。TENCOR P 15还有一套软件工具，使用户能够调试晶圆缺陷、分析测试结果、创建报告和配置工具。软件还提供全面的数据分析,包括大量图形显示,以深入了解缺陷的根本原因。该资产可以容纳各种类型的样品，包括Si、GaAs和蓝宝石，能够测量包括迁移率、载流子寿命、应力、形态和原子力分析在内的广泛参数。为确保KLA P 15的准确性和可靠性,该模型具有广泛的校准存储库,可存储超过12,000个校准参数。此外，设备还配备了热稳定系统，确保测试期间所有测试条件保持稳定。为了防止硬件故障，P 15还有一个硬件检查单元，定期检查机器部件是否有磨损迹象。总而言之，P-15 Wafer Testing and Metrology工具为高级晶圆检测和测试提供了一个全面的解决方桉，让用户能够快速准确地深入了解晶圆缺陷的根源。