二手 KLA / TENCOR P15 #293825144 待售

KLA/TENCOR P15晶圆测试和计量设备是一种最先进的高通量计量系统，旨在检测半导体晶圆。它配备了先进的光学计量学技术、高分辨率成像能力，以及功能强大的计算机处理器，可以实现极其快速准确的计量学结果。该单元用于对未加工和加工过的晶片进行各种晶片测试和分析。这些测试包括缺陷检查、应力分析、设备表征、产量管理和临界尺寸测量。KLA P-15机利用分辨率为5 nm的650 nm激光反射光测量来检测和分析缺陷。通过捕获和分析晶片的图像，TENCOR P 15工具可以识别和测量线宽等缺陷和特征，以及异常。KLA/TENCOR P 15的高速光学和成像系统能够每小时提供高达25,000个晶圆测量结果，从而能够快速检查大量晶圆。资产的快速捕获功能,加上强大的分析和数据分析算法,使其能够快速评估设备性能和可靠性等关键参数。KLA P 15型号还集成了一系列复杂的自动化工具,使客户能够轻松定制操作并优化吞吐量。传统上困难且耗时的检验过程现在可以自动完成，以最大限度地提高生产效率。TENCOR P-15晶圆测试和计量设备是为需要高精度、高精度和快速计量性能的半导体行业和游行研究实验室而设计的。其先进的自动化功能,加上高分辨率的成像功能,使其成为高级计量过程的理想选择。