二手 KLA / TENCOR P15 #9004295 待售

KLA/TENCOR P15是一种晶圆测试和计量设备，专为高效晶圆测试和监测各种半导体产品的制造过程而设计。它是一个多传感器系统，可用于计量应用，如横截面分析、形状和表面分析，以及用于测试工作流程。这个单元提供了广泛的技术，从光学显微镜、白光干涉测量、手写笔测量到电气测试、热电测试和声学显微镜。KLA P-15机具有先进的成像、图像处理和分析技术的结合。该工具可以检测晶片的物理特性，如地形、均匀性和电阻。它还提供了广泛的表征参数，包括模具尺寸、螺距、形状和平坦度。TENCOR P 15资产配备了一系列自动化功能,使半导体工艺在制造过程中更容易受到最佳监控。通过利用这种模型来监测晶片在制造过程中的战略要点，制造商可以在需要时尽早采取纠正措施。该设备还具有跟踪和调整晶圆参数的实时系统，以确保产品的一致性。该单元为开发复杂晶圆制造检验提供了可靠的数据采集、图像处理和分析工具。它能够从显微镜中捕获电子图像并将数据处理到报告或CAD图像中,或者运行自定义算法来评估粒子计数、蚀刻速率、边缘质量和产量。这台机器配备了边缘检测算法和算法，将小粒子和较大的缺陷信号分开。它可以进行高速、准确的测试，提供晶圆的精确、全面的表征。KLA/TENCOR P 15拥有广泛的能源来源，包括原子力显微镜（AFM）、光刻和等离子体蚀刻。数据采集工具支持各种图像和表征模式，并提供标准格式的输出。它甚至可以与其他测试设备集成，以补充过程控制。总之，KLA P 15是一种先进的晶圆测试和监测资产，旨在进行高效的制造监测。其强大而全面的功能提供了全面的表征和反馈系统,以提高生产线的可见性。此模型在最小化制造过程中的缺陷、提高产量以及降低成本和提前时间方面极为有用。