二手 KLA / TENCOR P15 #9103024 待售

KLA/TENCOR P15是一种晶圆测试和计量设备,旨在为具有挑战性的过程（如IC设备开发、IC制造和其他专用应用程序）提供安全、高精度和可重现的结果。该系统能够对微处理器、DRAM、FPGA和其他半导体器件的任何尺寸、形状或几何形状提供准确、可重复的测量。它旨在实现半导体工程、工艺研究、产量优化和晶圆级诊断。KLA P-15单元具有最先进的技术,例如具有测量和观察功能的全场成像、自动特征识别和缺陷检测,以及全自动的现场光掩模检查。该机器有助于对快速发展的市场结构、设备几何形状和过程变量进行可靠、可重复和准确的检查。TENCOR P 15由一个多功能、高精度的光学平台组成，具有一套目标、相机和光源。它具有16位测量分辨率,在从设备开发和缺陷检测到计量等多种应用中提供精确的结果。此外，该工具还包括摄像头头、光学显微镜和单个平台上的控制资产，以便于集成和操作。该模型还包括广泛的测量和分析包，包括信号分析、焦点测试、迭加测量以及一整套计量软件包，以确保对每个晶圆的性能进行完全控制。此外,还可以选择一些高速硬件外围设备,以提高准确性并发现细微的缺陷。总体而言,TENCOR P15旨在提供跨多个流程、几何、子流程和设备配置的可靠、准确和可重复的测量。TENCOR P-15设备是半导体制造以及IC设计、开发和表征的理想工具。通过提供准确的测量和实时控制,KLA P15已被证明是帮助比以往任何时候都更快速地做出晶圆级决策和解决方桉的有益工具。