二手 KLA / TENCOR P15 #9154043 待售

KLA/TENCOR P15是一种晶圆测试和计量设备，旨在为半导体器件制造设施提供高精度、全自动的计量解决方桉。KLA P-15系统是晶圆过程控制、缺陷检测和层级测量方面最先进的技术。它提供电气测试和光学计量解决方桉,以评估半导体器件中的表面地形、形态、纹理和工艺缺陷。该单元提供了广泛的计量和测试功能,包括电气测试、光学检查、2D/3D曲面和临界尺寸（CD）测量、屈服分析、缺陷表征和自动特征检测。它具有先进的光学和视觉传感技术，允许同时测量多达四个晶片。该机还配备了半自动化工作流，并具有图形用户界面（GUI），方便精确地控制晶圆测试过程。TENCOR P 15工具能够产生对半导体层及其厚度的各种精确测量，空间分辨率高，样品部分损坏小，整个晶片精度均匀，以及自动报告资产。它还允许通过使用高级图像处理算法进行多参数分析来识别和分类过程缺陷,如划痕、颗粒、丘陵和空隙。KLA P 15还提供了一套广泛的数据分析和报告功能。它使用户能够使用自定义参数和阈值生成详细报告、详细缺陷映射和屈服分析。此外,该模型还提供了强大的自动化功能和高级数据挖掘功能,允许用户检查数百万个数据点并实时分析其趋势。TENCOR P-15是一种先进、一流的测试和计量设备,在半导体器件制造操作中提供高精度和最大可靠性。它是确保质量控制和维护过程稳定性的宝贵工具。