二手 KLA / TENCOR P15 #9166831 待售

KLA/TENCOR P15是一种晶圆测试和计量设备,旨在准确高效地测试和分析当今半导体工业中使用的晶圆。该系统利用其三维自动特征识别（AFR）技术,允许对晶片进行高速分析,直至微观尺度。此功能使KLA P-15能够准确快速地识别形状、特征大小和位置。TENCOR P 15是一个高解析度的单元，以快速电子束光机建造，可以捕获高解析度的影像而不会失真。这种工具历来被用作检验和测量精密零件和半导体晶片的工具。它的成像和分析能力现在扩展到包括缺陷检测和故障分析。此外，KLA P15还具有测量深度、宽度和高度的能力，精度不超过1微米。KLA P 15具有容纳多种晶片类型和尺寸的灵活性，从100毫米到300毫米不等。该资产采用坚固的焊接钢架设计，在测试过程中可实现隔振和最高精度。先进的高功率计算机断层扫描（CT）扫描和过滤功能有助于准确扫描和分析晶片数据,并实时捕获晶片表面的3500多万个特征。P-15具有直观的用户界面,并提供直观的"拖放"功能,以快速自定义模型的测试和计量功能。此外,P15还能够收集、存储、编辑和导出高级数据。数据分析程序也可用于快速可视化结果和简化通信。KLA/TENCOR P-15是一种先进的晶圆测试和计量设备,可用于众多应用,并提供无与伦比的分析功能。其高分辨率成像、快速采集速度和直观的用户界面，使得TENCOR P15系统成为依赖准确可靠缺陷检测和故障分析的行业的理想选择。P 15为晶圆测试和计量提供了一个多合一的解决方桉，是任何级别生产的必备方桉。