二手 KLA / TENCOR P15 #9224782 待售

ID: 9224782
晶圆大小: 12"
Surface profiler, 12" Can be modified to 8" Operating system: Windows XP.
KLA/TENCOR P15晶片测试和计量设备是质量控制、产量管理、缺陷检测和审查的最新解决方桉。它提供了强大的特性和功能,可实现准确、高效和经济高效的过程控制。集成软件提供了广泛的数据测量、分析和可视化工具,使用户能够快速识别缺陷及其原因。这个功能强大的晶片测试和计量系统设计有自动边缘识别和采样功能,以确保每个晶片上的样本点一致,无论晶片大小或批次。其他标准特性包括晶片的自动扫描和表面特性和厚度的测量,以及可以获取和显示动态应变测量的集成应变仪。此外,KLA P-15具有先进的功能,包括使用对比分析和自动对准和聚焦来测量迭加和临界尺寸(CD)。这些功能可以逐个晶圆精确、重复地测量特征。此外,该单位的多元分析和统计分析工具使用户能够获得对过程的全面评估,从而能够快速识别和纠正问题。TENCOR P 15还为用户提供了完整的报告包和用户友好的直观图形用户界面(GUI)。这种用户友好的界面可以在离线和操作员交互模式下使用,用户可以以各种格式快速地以图形方式可视化数据。P-15台机器还提供卓越的操作安全功能,为工具部署和服务提供单点联系点。此外,资产的用户友好型GUI符合一系列工业协议和标准,例如用于内联网通信的OPC-UA或用于通过标准Web浏览器远程控制模型的OPC-WEB。总体而言,KLA P15是一种先进的晶圆测试和计量设备,可为过程控制和缺陷检测提供准确、高效和经济高效的功能。其集成的软件、高级功能和直观的用户界面使其成为任何质量控制实验室的可靠、安全且易于使用的解决方桉。
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