二手 KLA / TENCOR P15 #9306139 待售

KLA/TENCOR P15是一种晶圆测试和计量设备，设计用于半导体和集成电路制造行业。它用于检测和分析半导体晶片上的缺陷，并为工程团队提供结果。KLA P-15系统可以使用高分辨率成像单元进行晶片检查,并能够精确测量样本量和缺陷大小。它配备了一台高分辨率的成像机，可以捕获样本图像并执行一系列严格的测试。该工具利用光学和红外成像和光谱以及检测。为了测试晶圆，TENCOR P 15使用激光束技术和增加资产精度的专有算法。这些算法有助于模型区分不同的缺陷，并将它们与正常值和可接受值分开。该设备还可以高精度地测量晶圆的平坦度和厚度。此外，利用先进的激光干涉测量技术，系统能够检测到亚微米尺寸的缺陷。P-15的循环速度非常快,只有一秒钟,因此可以处理高吞吐量的生产线。该单元具有双龙门安装级，能够同时在24个不同的自动装载机上运行，提供了更大的灵活性。这种高通量能力及其检测超小缺陷的能力使得TENCOR P15满足复杂晶片测试需求的理想选择。KLA P 15采用多种计量工具，包括CCD成像、光学反射法、多光谱法和AFM成像。这使得机器可以分析不同的特性，如晶粒大小和形状、表面粗糙度和组成，使其成为一系列晶圆测试需求的理想选择。KLA P15还提供准确的数据分析。该工具包括先进的基于模型的缺陷分类（MODCAL）算法，根据缺陷的特点自动检测和分类。这有助于减少误报,使专业人员更容易解释数据和自信地做出明智的决策。总之，P15是一种可靠、精确的晶圆测试和计量资产，可以通过其精确的缺陷检测和分析能力帮助确保产品的可靠性。该模型具有较高的吞吐量能力和1秒的快速循环速度,是大批量生产线的理想选择,其先进的技术使其成为满足复杂晶圆测试需求的理想设备。