二手 KLA / TENCOR P15 #9315027 待售

KLA/TENCOR P15晶圆测试和计量设备设计用于半导体材料和产品的快速、高效、自动化的测试和检验。利用自动光学检查解决方桉，该系统能够检测潜在缺陷，如微裂纹、粒子和其他缺陷。KLA P-15集成了特殊的成像、照明和分析技术，以快速捕获晶圆表面的图像并进行分析。该单元包括有助于识别和测量难以检测的目标特征的专有特征识别算法。此外,TENCOR P 15还包含一套精密计量工具和高级测量。这些工具能够精确精确地测量晶圆地形、尺寸和其他材料特性，如平坦度和轮廓。这些测量对于保持半导体行业成功所必需的精确尺寸要求至关重要。此外，P15由高精度传感器组成，这些传感器从晶圆表面剖面中捕获精确的数据。这允许精确测量特征大小、距离、表面地形和许多其他表面特征。P-15还提供了用于分析、分类和报告结果的强大软件工具。软件的分析功能支持详细的缺陷分类、数据检查和统计摘要报告。该机器能够存储、分析和报告大量数据。报告功能使用户能够以有意义的方式向客户提供信息。KLA/TENCOR P 15提供自动缺陷分类、报告和缺陷管理功能,可提高检查效率,同时降低数据管理成本。此外,TENCOR P-15还包括到KLA在线缺陷管理工具的连接。这允许用户远程访问缺陷数据,并安全地共享和协作数据。总而言之，KLA P15晶圆测试和计量资产是测量、检查和分析半导体材料和产品的不可或缺的工具。凭借强大的成像技术、计量工具、分析和报告功能,KLA P 15为用户提供了满足其晶圆测试需求的可靠、高效的解决方桉。