二手 KLA / TENCOR P16+ #293815639 待售

KLA/TENCOR P16+设备是一种自动化晶圆测试和计量系统，旨在为半导体行业提供全面的计量解决方桉。它利用先进的算法和专有的传感技术，快速准确地测量和分析晶片。KLA P 16+可用于测量晶圆等厚度范围在0.8至32微米之间的基板的厚度、失效分析和地形。该单元还可以配置用于各级光学测试，包括过程监控和详细缺陷分析。TENCOR P-16+配备了具有多波长激光照明器的精密光学检测机，可用于多种测试，如反射和折射率测量。独特的多波长光学器件使工具能够执行超越NIST可追踪的鉴定测试。该资产还使用具有可互换透镜和舞台板的模块化探头进行高精度采样和测量。KLA P-16+还能够以模拟或数字格式捕获各种电气测试信号。此交错特性支持测试表征、过程监视测试和故障分析。此外，该模型还包括先进的嵌入式软件和功能强大的分析软件工具，以便于数据捕获和分析。KLA/TENCOR P-16+设备有多种配置,具体取决于用户需求和预算。KLA/TENCOR P 16+系统包括一个自动晶圆映射单元，用于在每个晶圆表面精确测量高达3,000,000点。它还配备了创新的横截面成像机，使用户能够准确分析扫描对象的三维结构。总体而言,KLA P 16+晶圆测试和计量工具可为所有类型的生产和研究应用提供卓越的性能和准确性。其先进的光学检查资产、自动化晶圆映射模型和强大的分析软件使其成为半导体生产商和研究人员的理想选择。