二手 KLA / TENCOR P2 #9009073 待售

KLA/TENCOR P2是一种用于各种半导体分析的晶圆测试和计量设备。KLA的KLA P-2系统是用于设备表征的高精度工具,有助于降低半导体材料分析的成本和上市时间。TENCOR P 2单元具有集成平台，具有一套聚焦测量功能和直观软件，用于精确测量材料的尺寸、形状和组成，包括电阻率、板材电阻、移动性、击穿电压、薄膜厚度和临界尺寸测量等特性。P-2机采用高速对准工具设计，使样品晶片自动对准检测区域，精度高，吞吐量高。这使得TENCOR P2资产能够快速准确地测量样品的各种特性，包括临界尺寸、片状电阻剖面、移动性特性和电阻率测量。KLA P2模型的集成平台包括一系列技术,如激光干涉测量和散射测量,旨在产生高度精确的物理和化学测量,为客户提供有关其设备的大量详细信息。这个集成的平台允许进行多个维度的分析以及辅助测量,以便更深入地了解流程。人性化的TENCOR P-2软件提供了统计和历史分析等强大的分析工具。它允许操作员通过参数设置、聚焦和数据处理自定义作业，从而允许一个易于使用但功能强大的平台。从原始数据到定制过程开发这三个不同的操作级别,P2设备是一个不可或缺的工具,可让您的生产过程以尽可能高的准确性和可重复性运行。总体而言,KLA/TENCOR P2为晶圆测试和计量提供了高效、集成的解决方桉,使用户能够快速、轻松地获得准确、详细的结果。KLA/TENCOR P-2系统具有一套先进的测量功能和直观的软件,是一个可靠的、业界领先的解决方桉,非常适合执行各种设备表征任务。