二手 KLA / TENCOR P2 #9217450 待售

KLA/TENCOR P2是一种晶圆测试和计量设备，设计用于先进的半导体晶圆检测和分析。它提供可靠、世界级的过程控制和缺陷检测功能。KLA P-2使客户能够实现尽可能高的工艺产量、产量稳定性和工艺周期时间优化。该系统的模块化平台使客户能够根据自己的特定需求进行定制,并且该产品的设计具有最大的灵活性和可扩展性,因此非常适合任何尺寸的晶圆晶圆厂。TENCOR P 2具有高分辨率的FPD（平板显示器）显示屏，具有出色的图像质量和可靠、易于使用的触摸屏界面。该单元由几个组件组成，包括光束偏转机（BDS）、高压电源和电子（HVSE）单元、大幅面白光相机（WLC）和实时图像处理器（RTIP）。BDS单元负责将HVSE单元产生的光束偏离晶圆表面，让WLC捕获晶圆表面的图像。RTIP负责处理WLC捕获的图像,并与工具的其他组件进行通信。WLC捕获晶圆表面的高精度图像,并提供实时缺陷检测功能。该资产可用于识别晶片上的一系列缺陷，包括：表面缺陷、表面不规则、平整度问题、颗粒污染、应变层等等。KLA/TENCOR P-2支持一系列计量选项,例如光学和电气测量,以全面了解晶圆的表面。TENCOR P-2提供多种选项，包括广泛的检查模式、目标同步技术、现场数据存储和高级数据处理能力。该模型还可以与第三方系统集成，使客户能够利用其功能。综上所述，P2是一种强大可靠的晶圆测试计量设备。它为先进的缺陷检测和提高工艺产量提供了一个理想的平台。该系统高度可定制,使客户能够配置该系统以满足其特定要求。TENCOR P2使客户能够获得准确可靠的晶圆测试和计量结果，是半导体晶圆制造的理想解决方桉。