二手 KLA / TENCOR P2 #9226183 待售

KLA/TENCOR P2晶圆测试和计量设备是一种最先进的系统，能够对半导体晶圆进行准确一致的测量和计量。它包括一个视觉单元，集成的计量和分析软件，自动化的接触测量，和集成的批周期支持。该机器非常适合过程和质量控制、晶圆映射和RMA（退货授权）操作。KLA P-2中的视觉工具利用了配置用于捕获整个晶圆上的高分辨率图像的强大摄像头。资产的测量是精确和可重复的,只需最小的图像对齐。它可以每分钟捕获多达16个晶圆以获得最大吞吐量，并且可以识别每个晶圆的起始或在一个步骤中测量全环。该模型的综合计量和分析软件高效、方便用户。它在整个过程中收集、存储和传输数据。软件具有强大的数据分析算法，可以优化生产流程，提高产量。此外,它还可以查找和诊断材料缺陷、预测性能并显示批级指标。TENCOR P2上的自动接触测量是另一个关键特征。它的高速非接触式扫描可以在一次扫描的情况下在多个晶片上同时进行测量。它还能够测量精确的非平面表面、小特征上的桥梁测量以及水平和垂直方向上的倾斜测量。最后，KLA P2晶圆测试和计量设备包括集成的批量循环支持，以简化生产和尽量减少浪费。这使得跨多台机器自动化流程、控制可重复性、管理一批晶片以及跟踪通过每个晶片的部件变得更加容易。总体而言，P2晶圆测试和计量系统是半导体晶圆测试和计量的综合可靠的解决方桉。它配备了精密的视觉单元、集成的计量和分析软件、自动化的接触测量以及集成的批量周期支持，将帮助组织满足其晶圆测试和计量要求。