二手 KLA / TENCOR P2 #9281925 待售

KLA/TENCOR P2晶圆测试和计量设备是一种专门为IC制造和测试而设计的自动扫描电子显微镜（SEM）。该系统能够在基片上成像纳米级特征，并在质量、均匀性和一致性方面进行模具成像。KLA P-2专为严格公差过程控制和系统缺陷分析而设计,具有最强大、可靠和可重现的性能。TENCOR P2具有快速准确分析工业晶片和模具应用中的大量设备所需的光学和电子元件。P-2可以获得高精度和重复性的上下文内和模级图像、测量和计数。WaferSense®电子设备集成到TENCOR P2的内部机构中,并在成像之前自动设置和校准测试条件。这有助于消除人为错误并显着提高测试分辨率和准确性。它还提高了晶片和模具的测试速度，因为测试可以在短短几分钟内完成。KLA/TENCOR P-2还配备了创新的成像检测器，提供卓越的图像清晰度和信噪比。这种最先进的CCD检测器可自动调整图像参数,从而提高分辨率,提高不同设备功能之间的对比度。该单位还能够建立半自动和自动的食谱，用于检查和测量任务。这有助于消除手动编程,并消除与手动编码配方相关的人为错误。KLA P2还存储所有获取的数据，可以很容易地检索和分析进行比较。总之，KLA P2机是一种功能强大、可靠、精确的自动扫描电子显微镜工具。它设计用于各种IC制造和测试应用中的严格公差过程控制和系统缺陷分析,并具有最新的成像和测量功能。其WaferSense电子产品和高级照明功能确保了无与伦比的分辨率和准确性,而自动配方功能则无声地完全控制资产。因此，在半导体工业中，P2是优化器件产量和质量保证的理想工具。