二手 KLA / TENCOR P2 #9383469 待售
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KLA/TENCOR P2晶片测试和计量设备是一种自动化的非接触式光学平台,能够测量所有150 mm和200 mm晶片尺寸的高精度表面特征。KLA P-2系统具有专用的高分辨率显微镜，用于在处理前后捕获晶圆清晰准确的图像。显微镜配备了大视野、增强的空间分辨率和可选的紫外线照明，以确保拍摄精确的晶圆图像。该单元设计用于多种格式的图像捕获,包括非接触成像、放大点模式设计和先进的KLA专有成像技术。TENCOR P2机的光学成像可以检测到的缺陷，如颗粒、凹坑、划痕、图样缺陷，可以用来保证产品的高产和质量。该工具还运行用于缺陷表征的高级算法,允许用户在制造过程中准确识别和标记缺陷并隔离故障区域。此外,该资产还具有强大的分析功能,可以更深入地了解产品和过程数据。P-2型号还具有健壮的自动处理设备，适合处理8英寸至12英寸尺寸的晶片。它具有热卡盘，可以确保晶片在测量过程中保持一致的温度，从而实现精确的测量和可重复的结果。该系统具有用于自动晶片处理和放置的高级机器人技术，在整个检查过程中消除了晶片的手动处理。P2设备可提供可重复的测量结果,并具有良好的性能和可靠性记录。它具有模块化的设计，可根据需要轻松扩展，并与其他TENCOR系统集成，如高级模式识别和过程控制系统。这使用户能够轻松扩展其检查功能,以涵盖广泛的产品规格和行业。TENCOR P-2晶片测试计量机是一种最先进的平台，旨在为提高产品质量和产量提供准确可靠的晶片测量。KLA P2工具凭借其卓越的成像光学、自动化晶片处理以及集成的过程控制解决方桉，是半导体、LED、MEMS等行业的强大检测解决方桉。
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