二手 KLA / TENCOR P20 #293628464 待售

KLA/TENCOR P 20是一种晶圆测试和计量设备，使用CCD成像器件与先进的激光测量系统耦合，检测半导体材料中的缺陷。它是用于基于晶圆的设备的过程控制、故障分析和生产监控的强大工具。KLA P-20具有可变灵敏度设置,可用于检测亚微米大小的缺陷。CCD成像设备用于扫描晶片表面。当器件在晶片表面上移动时，激光束测量从晶片表面反射出来的反射光。这些记录的数据用于识别晶圆中的表面缺陷和其他问题。CCD成像单元配备了高分辨率、高速扫描引擎，能够快速准确的测量。扫描速度可调，最大扫描时间为1秒。该机器还具有一个测量数据库,用于存储检查中的所有数据。该工具高度可靠，具有集成资产控制器、实时过程监控、可编程故障报警和自动测试台模式等内置功能。它还与一个软件集成在一起，该软件为数据分析和报告生成提供了一个易于使用的界面。TENCOR P 20型号为长期运行而设计，可用于生产环境。其容量大、运行可靠，适用于先进设备的工艺控制、故障分析、生产监控。其先进的诊断和缺陷报告设备使其成为生产监控和缺陷检测的理想选择。总之，KLA/TENCOR P 20是一种包括先进激光测量单元和高分辨率、高速扫描引擎的高性能晶圆测试和计量系统。它是基于晶圆的设备的过程控制、故障分析和生产监控的有用工具。