二手 KLA / TENCOR P22H #9411708 待售

KLA/TENCOR P22H是一种晶圆测试和计量设备，设计用于半导体器件的检查和过程控制。它结合了复杂的算法和高度先进的自动化检测技术，以快速和准确的晶圆生产。KLA P 22 H系统利用其高分辨率成像光谱仪和显微镜扫描和检测图桉化和非图桉化基板上的工艺缺陷。不同波长的多个光源使设备能够应用各种光学检查技术来增强晶圆上污染物的检测。然后根据预先确定的标准对被检查的基板进行评估，以发现任何不规则之处或任何不规则之处，如平版印刷、地形或蚀刻缺陷、材料遮蔽或特征放置不良等。该机还能够监控关键工艺参数的累积磨损，从而确保高级工艺和产品的稳定性。TENCOR P-22H具有3D航空航天多传感器自动对焦功能,以确保每个被检查的晶圆表面都能最佳地聚焦在光学成像工具上。利用这种自动对焦资产，可以确保图像质量一致，从而提高被检验材料的准确性和数据准确性。该模型还能快速准确地测量半导体上的小特征。高质量的光学成像设备可以快速映射晶圆表面的图样。该系统非常适合高分辨率应用，如在电路、接触孔、线窄和其他特殊测试地点的深度、面积和体积测量。KLA/TENCOR P-22H晶圆测试和计量单元是提高半导体工业质量和降低成本的理想解决方桉。通过将复杂的算法与先进的自动化检测技术相结合，为确保晶圆的最佳生产提供了精确度和速度的最佳组合。