二手 KLA / TENCOR P2H #293758331 待售

KLA/TENCOR P2H是一种先进的晶圆测试和计量系统，用于半导体晶圆测试和最终测试过程管理。它旨在确保晶片质量的最优和产量的最大化。KLA P-2H旨在提供生产过程中每个晶片的高稳定性晶片缺陷报告。利用激光聚焦自动检测，TENCOR P2H启动每个晶片的测试，同时平台将定量检测数据引入生产测试。这个数据由系统分析，然后提供一个全面的图像。TENCOR P2H结合了分析生产线上每个晶片的高级测试算法。快速进行高速检测，准确度可靠，检测效果良好。它设计用于跨基板检查,具有单面板或多面板检查功能。使用的软件便于控制晶片处理、识别粗糙的补丁以及与持有晶片的系统进行协调。数据分析能够实时提供设备的反馈和设置,提供最新的结果和改进的生产过程控制。KLA/TENCOR P2H的模块化设计允许它涵盖广泛的应用，从基本晶圆测试到全自动全能晶圆检查。它的先进测试能够测量光学特性、电气特性和晶片线宽，从而生成关于每个晶片的准确报告。该系统提供了广泛的数据转换和存储手段,配备了一个小巧的USB 2.0外部硬盘驱动器、以太网连接和SMDR2 DVD-R/RW介质。P-2H允许全面而简单的缺陷检测和分析的能力提高了生产线的效率。其最先进的检验和管理能力使其非常适合当今先进的测试和计量要求。