二手 KLA / TENCOR P2H #9082646 待售

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ID: 9082646
晶圆大小: 6"-8"
优质的: 1996
Long scan profiler, 6"-8" 1996 vintage.
KLA/TENCOR P2H是一种全自动晶圆测试和计量设备,旨在支持半导体行业的广泛流程。该系统具有先进的成像和分析能力,可用于晶圆表面和特征的高分辨率成像。它提供晶片、模具和曲面的精确测量,包括形状和大小。该单元采用伺服驱动的模具测量模块,利用先进的视觉算法检测晶圆表面的小尺度特征。机器提供晶圆平坦度、表面粗糙度和斜角的测量。该工具配有提供高精度测量的多个光学传感器,还包括用于精确对准的自动对焦功能。该资产还利用先进的自动模式识别算法来检测晶圆表面的缺陷和异常。这使用户能够快速准确地识别潜在问题,并能提供对底层过程的宝贵见解。该模型还具有用于数据分析和报告的智能软件。它支持一系列分析功能,包括表面纹理分析、粒径测量、晶圆曲率分析和统计过程控制。软件还包括高级报告功能,允许用户创建具有清晰详细信息的自定义报告。除了光学性能外,KLA P-2H还配备了先进的样品处理能力。该设备有一个集成的样品进纸器,可以在队列中存储多达150个晶圆,并且可以与额外的样品进纸器接口。此外,该系统采用集成基板机器人,提供精确的晶圆放置和处理.总体而言,TENCOR P2H是一个用途广泛、功能强大的晶圆测试和计量单元,旨在支持半导体行业的广泛流程。该机器提供高级测量功能,可精确测量晶圆表面上的小规模特征。该工具还提供用于数据分析和报告、样本处理功能以及自动模式识别算法的智能软件。P2H是一种强大而可靠的资产,可用于确保生产的最高质量和可持续性。
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