二手 KLA / TENCOR P2H #9408171 待售

KLA/TENCOR P2H是一种领先的晶圆测试和计量设备，专门为提高半导体行业的产量和生产吞吐量而设计。它利用三维自动目视检查过程来检测基板表面的潜在制造问题。这样可以快速检测和校正当前晶片上的缺陷以及总体产量的趋势。KLA P-2H系统的自动显微镜成像装置可以对晶片上的结构和缺陷进行成像和测量。通过捕获有关结构和缺陷的详细信息,晶圆工程师可以快速检测、分析和报告任何异常。该机器还允许工程师通过与其他可提供单一数据源的可用软件集成来查看同一晶圆的多个检查图像。它还提供各种自定义分析工具以及交互式图形显示和报告。TENCOR P2H工具的自动测量软件是为快速测量和分析其图像而设计的。它的自动图像处理资产学习和调整晶片基板的变化，减少检查时间和提高精度。操作软件还提供了一系列缺陷检测选项,包括模板匹配、热像素匹配、空间尺寸设置和背景估计。此选项范围允许精确检测和分类细微缺陷。P2H模型还提供数据驱动的测试和分析,用于测量和跟踪处理器制造的质量。利用这些先进的能力，设备可以识别工艺改进，测量产量下降和减少由工艺流程和设计产生的废物。此外,它还包括数据连接,允许与工厂中的其他系统共享晶圆测试数据和其他生产编号。总体而言，KLA P2H是一个全面的晶圆测试和计量系统，具有很高的性能、准确性和可靠性。其自动化的三维检测过程和全面的功能范围为制造商提供了提高质量、降低成本和提高生产吞吐量的能力。