二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX 6200 Surfscan #9245958 待售

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ID: 9245958
优质的: 1992
Inspection system 1992 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscan是为服务半导体制造商而开发的关键尺寸和薄膜厚度计量工具。该设备采用3轴扫描仪进行快速准静止扫描,直至100Hz,动态扫描至6kHz。它是晶片、晶片级封装和薄膜基板的三维计量的理想选择,因为它能够测量任何表面的临界和平坦度,包括平面、弯曲、阶梯式和阶梯式。KLA 6200 Surfscan系统具有0-32微米的宽测量范围,分辨率为0.1microns,适合精确精确的测量。三轴扫描仪还保证了所有3轴扫描仪的高可重复性,并确保了位置测量中的高水平可重复性,以提供一致的测量。凭借其3轴扫描仪设计,TENCOR 6200 Surfscan单元可以有效地测量复杂的几何形状,如步入式曲面。该机器还具有直观和用户友好的图形用户界面,具有便于操作和分析的全面功能。它还具有集成的专有算法,允许自动测量表面,校正仪器倾斜、存根采样和检测器偏移等效果。此外,还可以随时校准6200 Surfscan工具,以确保对任何工艺或产品更改进行准确的测量。PROMETRIX 6200 Surfscan资产还拥有一整套专门为半导体晶圆测试和计量设计的软件工具。这些工具允许分析和表征不同材料、设备和应用程序的各种参数。其最重要的工具之一是其临界尺寸软件,它可以测量和比较临界尺寸与相应的模具模具,并分析临界尺寸随时间的变化。总体而言,KLA/TENCOR/PROMETRIX 6200 Surfscan模型是寻求提高晶圆测试和计量过程的效率和准确性的半导体制造商的理想解决方桉。其广泛的功能,如高测量范围、高可重复性和直观的用户界面,使其成为这些制造商的强大、全面和可靠的解决方桉。此外,它的软件套件确保了对不同参数和应用程序的全面分析,最终为用户提供了一个理想的工具,可以自信地分析关键尺寸的变化,并确保晶圆测试和计量过程的成功和准确。
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