二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX AIT I #9221583 待售
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ID: 9221583
晶圆大小: 6"-8"
Patterned wafer inspection system, 6"-8"
Double darkfield inspection tool
SECS II/GEM Communication interface
Low contact chuck (AIT I)
Multi channel collection optics system with independent
Programmable spatial filters
Pentium CPU with Windows NT installed
Wafer transfer area housing cover
Wafer handling module
High voltage electronics
Front / Rear EMO’s with covers
Flat panel display for AIT
Fold down keyboard tray with built in mouse
X/Y Drive / Controller chassis
Motion controller card
Blower box (Exhaust hoses not included)
Operations manual.
KLA/TENCOR/PROMETRIX AIT I是由KLA Corporation和TENCOR Corporation开发的晶圆测试和计量设备。该系统设计用于制造过程中半导体晶片的高速、精确分析。它是一个自动化晶片检查和计量装置,能够测量晶片的线宽、平整度、覆盖对齐度和表面拓扑,具有极高的精度和重复性。KLA AIT I使用Total Measurement Software (TMS)和Applications Programming Interface (API)等专有技术来获得准确且可重复的结果。该机器包含晶圆分析中心(WAC),该中心将TMS和API功能与其他组件(如传感器和成像头、网络数据采集集线器和晶圆处理器)集成在一起。传感器和成像头利用电荷耦合器件(CCD)扫描和测量具有不同扫描宽度、采样密度和测量能力的晶片。网络数据采集中心从传感器和成像头收集和分析数据,以准确生成晶圆特性的全局图,用于质量控制。晶圆处理程序允许TENCOR AIT I工具移动和引导晶圆精确定位以进行边缘检测和测量。Total Measurement Software (TMS)负责控制传感器和成像头,显示收集的数据,并根据需要将测量结果流式传输到打印机或计算机。TMS还包含许多线性和非线性近似值,其中包含用于确定晶圆适用性的缺陷度量工具和特征绘图仪。应用程序编程接口(API)连接到各种第三方系统,如CAD、可视化、数据采集和晶圆制造系统。这使TMS能够轻松集成到用户的现有体系结构中。API还允许开发人员在各种环境中创建和开发自定义晶圆分析软件。总体而言,该资产是一种精确可靠的晶圆测试和计量模型.PROMETRIX AIT I是晶圆质量控制的绝佳选择。
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