二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX M-Gage 300 #9151441 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300是一种晶圆测试和计量设备，旨在满足半导体测试和计量中最具挑战性的需求。它用于测量各种半导体晶片中单个器件特征的尺寸,如线宽、孔直径、侧壁角等。KLA M-Gage 300具有可定制的软件编程平台,允许用户根据自己的需求和系统的物理限制设计测试解决方桉。该单元包括计量软件，使用户能够以高速、精确的方式准确测量和分析设备特性。此外，TENCOR M-Gage 300还包括一个高精度、高速的晶片级，能够处理各种各样的晶片尺寸和材料。该机还具有集成的探头和易于集成到现有检查或测试设备中的紧凑工具。M-Gage 300能够测量高达2.75mm的特征，分辨率为0.5微米。资产的精确度是令人印象深刻的0.03微米。它以高达每小时200个晶圆的速度运行，并使用高级算法检测各种缺陷。该模型提供了一系列的计量设置，包括一套全面的晶圆检测参数，如粒度、倾斜角和晶圆边缘评估。PROMETRIX M-Gage 300具有易于使用的界面,允许用户快速设置测试并与大多数PC兼容。它具有集成的网络功能和全彩色触摸屏接口,并连接到外围设备以提高准确性。设备还可以连接到各种外围设备，以便进行更高级的测试和分析。KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300是一个功能强大的晶圆测试和计量系统，旨在满足半导体测试和计量的最艰难需求。它的高精度、精确度和速度确保用户每次都能获得准确、可靠和可重复的结果。此外,它易于使用的界面、广泛的兼容性和广泛的计量设置,使得此晶圆测试和计量单元成为满足任何半导体测试和计量需求的绝佳选择。