二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-55TC #9043949 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-55TC晶圆测试和计量设备是一种功能强大、用途广泛、精密的半导体制造工具。它能够在一系列应用中实现高性能分析,包括模模、晶片级和过程计量。该系统提供了极好的重复性和无与伦比的测量精度。它拥有尖端的3D高速、五轴扫描头。五轴扫描头利用弯曲镜和激光二极管在采样地点精确计量。快速扫描结合集成视觉引擎和高级算法，可实现高吞吐量和可靠的数据收集。该RS-55TC设计用于各种应用，使用户能够快速准确地分析整个晶圆表面。它可以测量边缘变形、打印高度、模具边缘轮廓、线缘宽度、表面粗糙度和侧壁角度。该单元还配备了一套功能强大的计量软件，使其适合半导体制造商在整个过程中使用，从薄膜缺陷检测到源/漏金属模式分析。KLA OMNIMAP RS-55/TC还具有许多好处,例如拥有成本低、占地面积小和易于使用。它非常灵活和可定制,允许用户根据自己的特定需求定制计算机。此工具专为在速度、准确性和可重复性至关重要的生产环境中使用而设计。总体而言，TENCOR OMNIMAP RS-55T/C晶片测试和计量资产是一种高度可靠和精确的工具，使用户能够快速准确地对整个晶片表面进行高性能分析。它强大的功能集和软件套件允许用户根据自己的确切需求定制模型，使其适合半导体制造的广泛应用。该RS-55TC物有所值,是帮助制造商满足其工艺需求的理想选择。