二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-55TC #9194017 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-55TC是一种高端晶圆测试和计量设备,用于解决半导体测试中的粘附、表面和平坦度问题。它主要用于制造各种应用的微芯片。该系统利用正在申请专利的多反射抑制（MRS）光学器件为低对比度样品提供优越的图像。这用于测量晶圆曲面的厚度、宽度、深度和平坦度等材料属性。它还具有在整个测试过程中保持图像焦点的动态聚焦驱动器,以及一个综合诊断单元（IDS）,用于在进行测量之前监视和校准成像和计量系统。KLA OMNIMAP RS-55/TC的其他功能包括一台能够安装、加载和卸载晶片以进行测试的自动晶片处理机,以及一台高分辨率的5百万像素MISA™成像工具和panaromic透镜。它还具有用于快速获取测试图像的双光束显像仪,以及用于监视和调整任何过程变量的过程控制资产。该模型还被设计为在电子光学的帮助下提供准确可靠的测试结果，具有极好的重复性和重复性。它具有自动对准功能，可以在测试时快速准确地补偿舞台俯仰、侧倾和偏航。它还具有许多用户友好的功能,例如直观的图形用户界面（GUI）和访问盖,使技术人员更容易接触和调整组件以进行测试。除了上述功能外，TENCOR OMNIMAP RS-55T/C设备还有一种低成本的替代激光计量。它还提供了高收率和良好的信噪比，为快速和可靠的结果。该系统提供卓越的性能和精确度，能轻松经受住半导体行业的严谨和要求。它还考虑到安全性和兼容性,并且与当今大多数标准微芯片兼容。