二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX Omnimap RS-75 #9365988 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX Omnimap RS-75是专门为半导体行业设计的晶圆测试和计量设备。该系统为晶圆地形、缺陷和其他关键参数提供准确可靠的测量。它能够在大幅面晶片上进行精密的测试，同时还能提供光学透明薄膜的高度详细的映射。KLA Omnimap RS-75单元的关键组件是集成的获取和测量硬件平台、先进的成像机以及功能强大但易于使用的软件。硬件平台由扫描仪、计算机和必要的工具组件组成。该扫描仪具有三轴X-Y-Z级,能够精确移动以详细描述晶片。计算机运行先进的成像资产，它将复杂的算法与高分辨率光学器件结合在一起，以获得准确和可重复的结果。TENCOR OMNIMAP RS75模型附带的软件是根据半导体行业的要求量身定制的。它提供了快速、高效的数据处理、高级数据分析和高级特征识别功能。该软件还为可视化和可视化工具提供了强大的选项,使用户能够快速评估其测量结果。Omnimap RS-75旨在为非高斯数据提供高效可靠的测试解决方桉。利用曲率半径、步高、空间漂移等参数精确测量薄膜。其先进的成像技术还可以对薄膜进行精确的缺陷检测，而其先进的特征识别能力则为薄膜缺陷和接触计量等应用提供了高分辨率的缺陷表征。KLA还提供了一套专门为KLA/TENCOR/PROMETRIX OMNIMAP RS75设备设计的校准选项。这些校准选项提供了高精度和可重复性,使系统能够满足最严格的行业标准。为确保数据完整性,PROMETRIX Omnimap RS-75会自动存储校准结果以供用户参考。PROMETRIX OMNIMAP RS75是一个先进的晶圆测试和计量单元，旨在提供半导体行业领先的性能。它具有集成的获取和测量硬件平台、功能强大且易于使用的软件以及一套校准选项。该机器提供准确可靠的测量，使用户能够自信地评估其晶圆测试和计量活动的结果。