二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #293594524 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H是一种最先进的晶圆测试和计量设备,设计用于在微观水平上检查晶圆的正面和背面。该系统具有很高的光学分辨率,可实现精确和快速的无损测量。KLA P-20H包括一个独特的外围和图桉化晶片映射单元,它不仅允许对晶片的表面进行地形映射,而且允许对晶片的物理特征进行地形映射。它具有双面检测功能，从晶圆的两侧都具有表面和图样计量能力。此外,TENCOR P20H还具有自动缺陷识别、缺陷分类和计量分析等高级功能,从而可以对晶圆进行更高效、更准确的分析。PROMETRIX P-20H由先进的专有算法和逻辑成像推动,使其能够提供晶圆的3D光学厚度和电阻率测量,并能够识别各种缺陷类型,如粒子缺陷、静电放电和制造的特征缺陷。TENCOR P-20H还利用先进的照明和图像采集技术，包括明场和暗场照明技术以及P-20HCCD相机技术。KLA/TENCOR/PROMETRIX P20H的高级扫描功能与其高级软件用户界面相结合。功能包括高级数据管理、配方控制、统计缺陷分类及其报告生成器,它将所有结果总结为易于阅读的格式。它还具有图形图像编辑功能,允许手动识别用户自身设备上的缺陷。这台机器被安置在一个与洁净室兼容的外壳中，为晶圆测试和计量提供了一个低噪音和无尘的环境。这种环境受到各种先进的尘埃过滤技术的保护，以及空气中的粒子检测工具，进一步将晶片与尘埃颗粒隔离开来，以确保从P20H中精确测量。总体而言,P-20H是一流的晶圆测试和计量资产,可进行高质量、快速和准确的测量,同时确保无灰尘和低噪音环境。它结合了先进技术、光学分辨率、软件用户界面和图形图像编辑功能，为用户提供了可靠、可靠的模型。