二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX P-20H #9150863 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX P-20H是一种最先进的晶圆测试和计量设备，设计用于提供半导体晶圆的精确测量和分析。该系统具有气动模式识别阶段，保证晶片自动对准，用于精确测试和扫描。它还配备了高速4轴定位单元，可以对晶圆扫描和测试要求实现非常精确的运动控制。此外,该机器还可以承受各种各样的晶圆尺寸和配置,并且能够从晶圆表面的不同区域收集数据。KLA P-20H工具包括许多计量选项,例如薄膜厚度测量、晶圆经度测量、电阻率测量、接触电阻测量、晶圆边缘测量和成像。它还具有各种额外的测量选项，例如粒子扫描、地形分析和应力映射，以便进行更深入的测试和分析。检查区域可容纳多达32个6英寸晶片，可快速同时进行测试和扫描。资产的用户界面旨在方便操作,并具有直观的设置和监控功能。此外，该模型可以远程操作并与其他控制系统集成。用户界面还针对故障点的检测进行了快速、准确的定制。它允许收集数据日志和测量晶片的位置，以便进行更详细的分析和报告结果。TENCOR P20H设备设计为即使以尽可能高的吞吐量速率也能提供可靠、准确的测试和计量结果。它还配备了先进的安全功能，以确保晶圆测试安全可靠地进行。此外，它是为满足ISO 9000标准而建造的，这意味着它可以更好地追踪正在收集和处理的数据。总体而言，KLA P20H晶片测试和计量系统是从半导体晶片进行精确测试和收集数据的强大而可靠的工具。其直观的用户界面和各种测试功能使其成为需要以高吞吐量速率提供详细和准确数据的任何应用程序的理想选择。