二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX RS-75/TC #179989 待售

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ID: 179989
Resistivity mapping system, 8" Hardware Configurations: Handler Type: H2 handler, with two open cassette platens, it can be attached with ASYST Load port for SMIF fab Computer: 486/66 MHz SW(StatTrax) Version : ST-6.70 Probe Head: x1 (Probe head type is optional depends on request) Standard User interface - Monitor, Keyboard, trackball Standard Media : Floppy Disk(1.44M) Measurement Specifications: Measurement Range: 5m Ohm/sq - 5M Ohm/sq Absolute accuracy: ±1% of NIST certified range, based on NIST(NBS) standard wafers corrected to 23oC Measurement Repeatability: < 0.2% (1σ), based on KLA-Tencor’s “Probe Qualification Test”, 1 inch test diameter, using the appropriate probe head. Temperature Accuracy: ±0.5oC Temperature Repeatability: ±0.2oC Measurement Capabilities: Routine check: 1-30 sites programmable XY map: up to 1,200 sites programmable Single or dual configuration capability All standard wafer sizes: 100, 125, 150 and 200 mm Analysis Capabilities: Contour/3-D map: 49, 81, 121, 225, 361, 441, 625 sites Diameter scan: 49, 81, 121, 225, 361, 441, 625 sites Probe qualification test: 20 sites, programmable radius Trend and SQC charts Histograms Calibration curves for low dose monitoring Data Transfer Capabilities: SECS-II, RS232 communication Enhanced SECS-II for fully automated operation (optional) 1996 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX RS-75/TC是一种封装晶圆测试和计量设备,设计用于对半导体器件、电路和相关技术进行快速、高精度的研究。它提供了亚微米精度的自动光学检查(AOI)和临界尺寸(CD)测量。该系统建立在一个强大的框架上,允许同时进行AOI和CD测量,从而实现快速的设备表征精度。KLA RS75/TC通过专用的光头提供高分辨率的计量数据,该光头具有电动机动化托盘和搜索镜头,可实现快速、精确的扫描功能。使用先进的伸缩和自动查看方法,该设备可以根据客户的需求精确检测、测量和分析缺陷和CD参数。自动校准功能基于晶圆类型和用户定义参数优化了光学性能。集成的专有高级3D-analysis软件套件包括强大的反光、CD和GQA工具,可用于全面、全面的计量和缺陷分析。该软件方便地与许多领先的晶圆生态模型集成在一起,简化了健康和风险评估分析,同时确保了准确、一致的结果。TENCOR RS-75TC具有直观的用户界面,可有效控制光学对准和采样参数,从而在一次扫描中可靠地实现缺陷和CD测量。彩色照明、受控的环境可确保亮度水平保持一致,从而实现最佳的视觉和缺陷检测。此外,PROMETRIX RS-75TC还提供了一系列用户友好的功能,可帮助简化数据收集和分析。它允许复制和共享晶圆配方、可移动扫描轨迹以及同时查看多个缺陷属性。此外,它的"分析报告表"为客户提供了一个易于编程的报告工具,使他们能够在单个实验中以.csv或.xls格式导出数据。KLA RS-75/TC是广泛的半导体器件、电路和技术的先进晶圆测试和计量的完美工具。它提供对光学对准、采样参数和自动缺陷检查的完全控制,使客户能够可靠地研究其设备,同时确保准确性和一致性。其先进的功能和直观的用户界面使机器易于使用,让客户手掌中拥有功能强大、速度快、精度高的计量工具。
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