二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX SM 300 #293766761 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX SM 300是为最精确的半导体检测和分析而设计的高端晶圆测试和计量设备。该系统能够以高精度和高精度测量复杂的半导体结构和器件，设计用于分析从小型电阻器和电容器到大型内存器件、集成电路等等的微电子器件。KLA SM 300利用最先进的光学成像技术来分析和测量半导体结构，以无与伦比的精度和精确度提供清晰细致的成像。这是通过高度敏感的4-Axis扫描单元实现的，该单元允许将表面特征的分辨率降低到0.1微米。该机还利用专有的边缘检测算法提高边缘识别和图像分割的有效性。TENCOR SM 300配备了一套强大的计量和分析工具。这包括一个AL切割计量工具来测量通过硅结构（TSV）和一个广角计量工具，它可以用来分析先进的互连结构，如先进的扇出技术（AFOT）。其他计量和分析工具包括光度成像和模模比较能力。PROMETRIX SM 300非常灵活,可以根据特定的应用程序和个人需求进行定制。例如，该工具可以配置各种扫描和测量光学器件，为复杂的设备结构和TSV结构等先进技术提供最准确的数据。此外,整个资产被设计为与其他设备和实验室自动化集成,使其更加通用和高效。SM 300是先进半导体检测分析的理想选择。该模型具有高精度、精确度和灵活性,能够满足晶圆测试和计量的最苛刻要求。