二手 KLA / TENCOR / PROMETRIX SpectraMap SM 300 #9284326 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX SpectraMap SM 300是一款先进的晶圆检验计量设备。该系统提供了一套全面的高精度表面测量、成像、薄膜厚度和包装检测功能。它设计用于测量一系列晶圆属性,包括几何、电气属性、薄膜完整性和曲面拓扑。KLA SpectraMap SM 300使用先进的数字成像和光学扫描技术，对晶圆表面创建高度精确的图像和测量，分辨率高达0.2微米。它具有多种测量模式，包括体积映射、反向散射电子成像（BEI）、X射线透射率成像（XTI）和扫描电子显微镜（SEM）。该单元可以检测到广泛的制造缺陷，如微观裂纹、划痕、颗粒等缺陷。该机还提供强大的薄膜厚度和包装检查选项。其中包括薄膜厚度映射、封装平整度、模版打印、模具连接、碰撞和焊条滚珠等。凭借这些先进的检测能力，TENCOR SPECTRAMAP SM300为制造商提供了检测和识别甚至最难以检测的缺陷的能力。该工具的高级软件套件允许简化操作和快速数据处理。这有助于制造商快速、准确地分析晶片表面数据，并进行必要的调整以达到最佳效果。此外,SM 300还提供多种连接选项,包括以太网、USB 3.0、RS 232和GPIB,使其能够轻松集成到现有生产线中。SPECTRAMAP SM300是一种强大的晶圆检验和计量资产.它提供晶圆表面、薄膜和封装的精确测量，甚至可以检测到最难以检测的缺陷。这使得该模型非常适合高精度生产应用。